Основы теории статистических измерений
Цветков Э. И.
Рассмотрены основы теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Представлены методы определения погрешностей и их характеристик. Приведены типовые структуры измерительных устройств. Первое издание вышло в 1979 г. Книга рассчитана на специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.
Année:
1986
Editeur::
Энергоатомиздат
Langue:
russian
Pages:
257
ISBN 10:
2302010000
ISBN 13:
9782302010000
Fichier:
DJVU, 1.76 MB
IPFS:
,
russian, 1986
Litres
Vous souhaitez ajouter une librairie ? Contactez-nous à support@z-lib.do
Convertissez des fichiers
Plus de résultats de recherche
Autres avantages 
